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JTAG 初步

Posted in Hardware, Jtag with tags on 2005 年 09 月 19 日 by Kun-Yi

JTAG最早由Joint European Test Action Group 提出,後因美國方面加入改為 Joint Test Action Group,目前標準為IEEE 1149.1 正名為 Test Access Port and Boundary Scan Achitecture,但因使用習慣,仍然被稱為 JTAG 即協會名稱。

一個具有JTAG介面的元件,基本上會含有一個 TAP(Test Access Port)控制器,內部含有一個狀態機與一些暫存器,其中包含了最基本的指令暫存器(Instruction Register)與資料暫存器(Data Register),而對外連接的介面為下列幾個標準信號腳

  • TDI:Test Data Input, 序列式輸入,在 TCK的升緣(Rising Edge)時讀取狀態
  • TDO:Test Data Output, 序列式輸出,在TCK的降緣(Falling Edge)時改變狀態
  • TCK:Test Clock,運作的基準時鐘頻率
  • TMS:Test Mode Select, 測試模式選擇,在升緣的時候被讀取
  • /TRST:Test Reset, 初始化TAP控制器

而其內的狀態機依IEEE 1149.1 規範,如下圖

  • Test-Logic-Reset:
  • Run-Test/Idle:
  • Select-DR-Scan:
  • Capture-DR:
  • Shift-DR:
  • Exit 1-DR:
  • Pasue-DR:
  • Exit 2-DR:
  • Update-DR:
  • Select-IR-Scan:
  • Capture-IR:
  • Shift-IR:
  • Exit 1-IR:
  • Pasue-IR:
  • Exit 2-IR:
  • Update-IR:
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